LNT-3系列液氮低温恒温器，是利用稳态气泡原理使样品处于恒定或按照所需方式变化的低温环境中，并能对样品进行一种或多种物理性能测量的低温恒温装置。

冷热台（LND）系列，可实现连续变温及逐点控温，控温精度±0.1℃；通过控制热源（电阻加热器）和冷源（液氮）来维持样品所要求温度的一种装置，其采用PID调节与模糊控制相结合的方式进行温度控制，能有效实现大温区连续控制，按照既定程序升温及保温等。

高低温探针台(LNP）系列，为小尺寸样品测量电特性，提供高精度可控的测量环境，帮助精准测量和分析判断晶圆器件的性能。可以实现基础测试、保护气氛电路测试、高低温真空探针台、超高频探针台、光电流分析、FA失效分析等测量和分析平台。

霍尔效应测试系统（霍尔效应测试仪）HET-3RT依据范德堡法则测量材料的电运输性能参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、方阻等，薄膜或薄层材料均可测量，可应用于所有半导体材料，包括Si、ZnO、SiGe、SiC，GaAs，InGaAs，InP，GaN（N型&P型均可测量）,广泛应用于国内高校、研究所、半导体、金属、高热导有机新材料等行业。

薄膜热电参数测试系统MRS-3专门针对薄膜材料的变温seebeck系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。

热电参数测试系统Namicro-3采用动态法(具有专利技术-专利号：ZL201811242049.2发明专利)和四线法分别测量样品的Seebeck系数和电阻率。Namicro-3主要是用于测试块体热电材料，包括康铜、镍、钨等金属，Te、Bi2Te3、ZrNiSn、ZnAgSb、NiMoSb、SnTe、FeNbSb、CuGaTe2、GeTe、Ag1-xCuS、Cu2ZnSnSe4等半导体及化合物，以及聚苯胺、PEDOT等高分子聚合物。

便携式热电参数测试仪PTM-5可用于快速测试薄膜、块体、纤维等不同形态热电材料的Seebeck系数和电导率，为热电材料的科学研究及产业效率的提升提供更专业、便携的新选择。

薄膜热导率测试系统TCT-3RT采用3ω测试方法，利用微/纳米薄膜材料导热引起加热器电信号的变化来检测其热导率。可验证薄膜材料在室温条件下的热导率性能差异。主要应用范围为微/纳米薄膜材料的热导率测量，可广泛应用于辅助各种功能薄膜材料的研究与开发，其涵盖范围包括集成电路散热材料、航空航天材料、热电材料与器件、信息存储与光电器件等。

光功率热分析仪是世界首台纳米级薄膜材料物性分析仪，填补了国际对纳米级薄膜材料无损检测其相变温度和热膨胀系数的技术空白！不仅可用于检测块体，还可检测低至1nm的薄膜材料。根据材料相变前后光学性质（反射光功率）有较大差异的特性检测材料的相变温度，依据光干涉原理检测透光材料的热膨胀系数，融合了相变温度分析仪和热膨胀系数分析仪的两项功能。

热膨胀系数分析仪采用创新的光干涉原理专利技术（专利号：ZL201410421128.5），可无损检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。

相变温度分析仪采用具有专利技术的光学系统检测原理，PCA不仅可以检测多种块体材料，还可以检测各种薄膜样品。可以进行多项相变理论的实验研究，如：薄膜材料相变的尺寸效应、结晶动力学、薄膜软化、溶化温度等。

教学霍尔系数测试仪(HET-3EL)，运用范德堡法，可用于测试教学样品的霍尔系数、载流子浓度、载流子迁移率等，可为大专院校提供专业、便捷、快速高效的教学实训服务。

快速退火炉采用红外辐射加热技术，可实现1吋(选配2吋)样品快速升温和降温，同时搭配超高精度温度控制系统，可达到极佳的温场均匀性，对材料的快速热处理(RTP)、快速退火(RTA)、快速热氮化(RTN)、快速热氧化(RTO)及金属合金化等研究和生产起到重要作用。

LNT系列液氮低温恒温器，是利用稳态气泡原理使样品处于恒定或按照所需方式变化的低温环境中，并能对样品进行一种或多种物理性能测量的低温恒温装置。

教学泽贝克系数测试仪(MRS-3EL)，运用动态法，可用于测试教学样品的泽贝克系数，为大专院校提供专业、便捷、快速高效的教学实训服务。